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仪电物光SGW®X-5显微熔点仪
℃/min时,标准偏差0.3℃线性升温速率误差±10%毛细管尺寸外径φ1.4mm、内径φ1.0mm、长度90mm样品高度3~5mm标准载玻片尺载玻片:76.2mm x 25.4mm x 0.8mm
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仪电物光SGW® X-4A显微熔点仪
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仪电物光SGW®X-4显微熔点仪
上海仪电物光SGW® X-4显微熔点仪【主要技术参数】仪器型号 SGW® X-4测量范围室温~320 ℃测量方法目视测量模式毛细管法、热台法zei小示值1℃ 重复性≤200℃±1
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SGW X-4
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仪电物光SGW®-650全自动图像熔点仪
仪器型号SGW®-650测量范围室温~400℃测量方法自动、目视(回放监测)最小示值0.1℃升温速率0.2℃/min 0.5℃/min 1℃/min 1,5℃/min 2℃/min 3
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仪电物光SGW®-630全自动图像熔点仪
上海仪电物光SGW®-630全自动图像熔点仪【主要技术参数】仪器型号SGW®-630测量范围室温~400℃测量方法自动、目视(回放监测)zei小示值0.1℃升温速率0.2℃/min 0.5
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显微熔点仪
SGW X-4显微熔点仪 主要技术参数:熔点测量范围:室温至320℃测量重复性: ±1℃ (在<200℃ 时) ±2℃(在20 .0℃ 一320
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仪电物光SGW-630全自动图像熔点仪
上海仪电物光SGW-630全自动图像熔点仪【技术参数】 测量范围室温-400℃测量方法自动、目视(回放监测)zei小示值0.1℃升温速率0.2℃/min,1.0℃/min,1.5℃/min,3 .0
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上海仪电物光 全自动图像熔点仪 SGW-650
/VGA/以太网卡/选配无线网卡电源220V±22 V;50Hz±1 Hz仪器尺寸390mm×320mm×240mm仪器净重13kg 上海仪电物理光学厂SGW-650图像熔点仪采用高分辨率数字摄像头
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LAMBDA 750K探测器
性能参数:LAMBDA 750K作为标准版本的LAMBDA探测器提供了人性化的设计以及优越的性能。 每一系列LAMBDA探测器都提供不同X射线能量探测范围的感光材料。对于硬X射线的探测
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